Analysen von den Experten
Zertifiziert von führenden Silizium- und Waferherstellern
Oberflächenanalyse
SIMS, TOF-SIMS
ICP-MS, ICP-OES
TXRF, REM, TEM
FTIR
Feinstaubmessung
A- und E-Staubfraktion
TRGS 400 / 402
Kontakt: Peter Mathes 01718547485
Bulkanalyse
NAA
(Neutronenaktivierungsanalyse)
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