Analysen von den Experten
Zertifiziert von führenden Silizium- und Waferherstellern
Oberflächenanalyse
Zum Beispiel ICP-MS, ICP-OES, TXRF, REM, TEM, FTIR
Bulkanalyse
Zum Beispiel NAA, SIMS
Feinstaubmessung
A- und E-Staubfraktion TRGS 400 / 402
Weitere Analysen wie z.B. Titration, Reinstwasseruntersuchungen auf Anfrage!
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