Materialanalyse
präzise · effizient · kostengüntig
Suchen Sie einen zuverlässigen Partner für Materialanalysen? Wir finden das geeignete Analyseverfahren für Sie und liefern schnell sowie kosteneffizient aussagekräftige Ergebnisse.
Bei SemiSol bieten wir ein umfassendes Spektrum an Methoden zur Materialanalyse an, um die Zusammensetzung von Materialien oder Schichten sowie deren Struktur und Morphologie zu untersuchen – beispielsweise bei Oberflächen oder Partikeln. Das Ziel ist die physikalischen, chemischen und mechanischen Eigenschaften eines Materials zu verstehen, um dessen Leistung und Qualität zu bewerten sowie Fehler zu erkennen. Unser Labor für Materialanalysen nutzt verschiedene Technologien, um das Verhalten von Materialien zu untersuchen, deren chemische Zusammensetzung zu bestimmen und mögliche Defekte oder Schwachstellen aufzudecken. Dazu zählen:
- Ermittlung und Identifizierung von Kontaminationen auf der Oberfläche
- Untersuchung der Oberflächenstruktur (Elementar- und strukturelle Analyse)
- Analytik und Bestimmung der chemischen Eigenschaften
Materialuntersuchungen sind unerlässlich, um die Qualität von Rohstoffen, Halbfertigprodukten und Endprodukten sicherzustellen. Die Analyse hilft auch bei der Einhaltung der ISO-Normen, um sicherzustellen, dass die Werkstoffe den geltenden Standards entsprechen.
Wir führen Materialanalysen in unserem Labor nach neuesten wissenschaftlichen Standards schnell und effizient durch, sodass Sie die Ergebnisse zeitnah erhalten. Benötigen Sie eine kurzfristige Analyse? Sprechen Sie uns gerne an.
Unsere Expertinnen und Experten helfen Ihnen, die geeigneten Methoden für Ihre Fragestellung zu finden.
Unser Labor für Materialanalysen: Oberflächen- und Schichtuntersuchungen im Detail
Analysen von Materialien umfassen verschiedene Techniken, wobei die Oberflächenanalyse und die Schichtanalyse besonders bedeutsam sind. Beide Verfahren konzentrieren sich auf unterschiedliche Aspekte eines Materials und liefern wichtige Erkenntnisse für spezifische Anwendungen.
Oberflächenanalyse
Die Oberflächenanalyse bezieht sich auf die Untersuchung der äußersten Schicht eines Materials. Das Ziel ist die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung und möglichen Verunreinigungen oder Defekte an der Oberfläche. Die Beschaffenheit der Oberfläche hat einen erheblichen Einfluss auf die Eigenschaften von Werkstoffen, insbesondere in Bezug auf die Korrosionsbeständigkeit und mechanische Belastbarkeit. Oberflächenanalysen werden in der Regel an einer Probe des Materials und mit speziellen Analyse-Geräten wie dem Rasterelektronenmikroskop (REM) durchgeführt.
Schichtanalyse
Die Schichtanalyse untersucht neben der Oberfläche auch die Tiefe und Struktur von Materialschichten. Diese Analysen sind wichtig für die Bestimmung von Schichten, die zum Schutz oder zur Isolierung auf Werkstoffe aufgetragen werden. Schichtanalysen helfen, die Funktionalität der Schichten zu überprüfen, wie etwa in der Elektronik oder Metallverarbeitung. Verfahren wie die spektroskopische Messung und die chemische Analyse der Probe werden oft angewandt, um die Zusammensetzung und den Aufbau der Schichten zu analysieren und ggf. unerwünschte Effekte zu detektieren.
Angewandte Verfahren in unserem Labor für Materialanalyse
Für die Analyse von Materialien wenden wir in unserem Labor eine Vielzahl spezialisierter Verfahren an, die spezifische Informationen über die Eigenschaften, Zusammensetzung und Elemente eines Materials liefern. Neben klassischen Standardverfahren wie ICP-MS und TXRF gibt es weitere wichtige Verfahren in der Materialanalytik, wie beispielsweise die folgenden:
Optische Emissionsspektroskopie (ICP-OES)
Die ICP OES-Analyse (Optische Emissionsspektrometrie mittels induktiv gekoppeltem Plasma) ist eine Methode zur Bestimmung der elementaren Zusammensetzung von Metallen und Legierungen. Bei dieser Analyse werden mit speziellen Detektoren die emittierten Lichtwellenlängen der Probe gemessen, nachdem sie durch eine Plasmaquelle angeregt wurde.
Mikroskopische Verfahren (REM, TEM)
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) liefert hochauflösende Bilder der Materialoberfläche, während die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) eine detaillierte Untersuchung der inneren Struktur eines Materials ermöglicht. Beide Methoden dienen der präzisen Bestimmung von Elementen und Strukturen auf Oberflächen und in Schichten.
Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX-Analyse)
Die EDX-Analyse wird oft in Verbindung mit der Rasterelektronenmikroskopie (REM) verwendet. Sie ermöglicht die qualitative und quantitative Bestimmung der chemischen Zusammensetzung eines Materials, indem die charakteristischen Röntgenstrahlen der Elemente gemessen werden. Dabei wird ein Gerät eingesetzt, das für die genaue Messung der Röntgenstrahlen verantwortlich ist.
FTIR-Spektroskopie
Mittels FTIR (Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie) wird die chemische Zusammensetzung von Materialien anhand ihrer Infrarot-Absorptionsspektren analysiert. Diese spektroskopische Methode wird häufig verwendet, um organische und anorganische Verbindungen zu identifizieren, die in der Probe vorhanden sind.
Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF SIMS)
ToF SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy) ist ein kombiniertes Verfahren aus Flugzeit-Massenanalyse und SIMS. Das Verfahren ermöglicht eine Untersuchung der obersten Atomlagen eines Materials. Diese Methode liefert detaillierte Ergebnisse zur chemischen Zusammensetzung von Oberflächen und wird oft verwendet, um mögliche organischen Kontaminationen zu bestimmen. Auch hier können wir in unserem Labor eine äußerst präzise Messung ermöglichen.
Materialanalytik mit SemiSol – schnell, kosteneffizient, aussagekräftig
SemiSol ist Ihr erfahrener Partner für Materialanalysen, Feinstaubmessung und zahlreiche weitere Analysen. Seit über 30 Jahren führen wir Analysen für Unternehmen aus der Halbleiterentwicklung und Solartechnik durch – von regionalen Mittelständlern bis hin zu internationalen Konzernen. Darüber hinaus unterstützen wir auch immer wieder Unternehmen unterschiedlicher Branchen sowie die Forschung und Entwicklung bei speziellen Fragestellungen mit unserer präzisen Materialanalytik.
Dank unserer langjährigen Erfahrung und umfassenden Expertise wissen wir, worauf es ankommt. Auch bei komplexen Fragestellungen entwickeln wir Lösungen, die aussagekräftige Ergebnisse liefern und im Zeit- und Kostenrahmen bleiben. Kontaktieren Sie uns für ein erstes Beratungsgespräch, um geeignete Methoden für Ihre individuellen Anforderungen zu besprechen. Wir freuen uns darauf, Ihr langfristiger Partner für die Materialanalytik zu werden und Sie mit unseren effektiven Lösungen zu unterstützen.
Druckversion
Sitemap
Impressum
© SemiSol Analytik GmbH · Geretsrieder Str. 10a · 81379 München
Managing Director: Rudolf Huber · Handelsregister: AG München HRB 192023 · USt-ID-Nr.: DE261761382
