Wir analysieren Ihre Oberfläche

Wir bei SemiSol bieten ein breites Spektrum an Analysemethoden an um Kontaminationen auf der Oberfläche zu detektieren. Hauptsächlich folgende Oberflächenanalysen befinden sich in unserem Sortiment:

• TXRF   (Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse)
• ICP-MS   (Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma)
• ICP-OES   (Optische Emissionsspektrometrie mittels induktiv gekoppeltem Plasma)
• EDX   (Energiedispersive Röntgenspektroskopie)
• WDX   (Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie)
• XPS   (Röntgenphotoelektronenspektroskopie)
• AES   (Atomemissionsspektroskopie)
• REM   (Rasterelektronenmikroskopie)
• TEM   (Transmissionselektronenmikroskopie)
• Ionenchromatographie
• Photometrie
• FTIR-Spektroskopie   (Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie)
• TGA   (Thermogravimetrische Analyse)