Wir bei SemiSol bieten ein breites Spektrum an Analysemethoden an um Kontaminationen auf der Oberfläche
zu detektieren. Hauptsächlich folgende Oberflächenanalysen befinden sich in unserem Sortiment:
- VPD (Gasphasenzersetzung)
- TXRF (Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse)
- ICP-MS (Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma)
- ICP-OES (Optische Emissionsspektrometrie mittels induktiv gekoppeltem Plasma)
- EDX
(Energiedispersive
Röntgenspektroskopie)
- WDX (Wellenlängendispersive
Röntgenspektroskopie)
- XPS
(Röntgenphotoelektronenspektroskopie)
- AES (Atomemissionsspektroskopie)
- REM (Rasterelektronenmikroskopie)
- TEM (Transmissionselektronenmikroskopie)
- Ionenchromatographie
- Photometrie
- FTIR-Spektroskopie (Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie)
- TGA (Thermogravimetrische Analyse)