Wir analysieren Ihre Oberfläche

 

  

Wir bei SemiSol bieten ein breites Spektrum an Analysemethoden an um Kontaminationen auf der Oberfläche zu detektieren. Hauptsächlich folgende Oberflächenanalysen befinden sich in unserem Sortiment:

 

  • TXRF   (Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse)
  • ICP-MS   (Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma)
  • ICP-OES   (Optische Emissionsspektrometrie mittels induktiv gekoppeltem Plasma)
  • EDX   (Energiedispersive Röntgenspektroskopie)
  • WDX   (Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie)
  • XPS   (Röntgenphotoelektronenspektroskopie)
  • AES   (Atomemissionsspektroskopie)
  • REM   (Rasterelektronenmikroskopie)
  • TEM   (Transmissionselektronenmikroskopie)
  • Ionenchromatographie
  • Photometrie
  • FTIR-Spektroskopie   (Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie)
  • TGA   (Thermogravimetrische Analyse)
     
Druckversion Druckversion | Sitemap
© SemiSol Analytik GmbH