EDX-Analyse: Die Energiedispersive Röntgenanalyse

Die Energiedispersive Röntgenanalyse, kurz EDX-Analyse, ist ein Verfahren zur Oberflächenanalytik. Mithilfe der EDX-Analyse lässt sich die spezifische Zusammensetzung der chemischen Elemente durch die emittierte Röntgenstrahlung einer Probe ermitteln. Das Verfahren erlaubt eine großflächige Analyse von Oberflächen sowie die Untersuchung eines bestimmten Punktes auf der Probe. Sowohl eine quantitative als auch eine qualitative Analyse sind möglich. Die Ergebnisse der Messung lassen Rückschlüsse auf vorhandene chemische Elemente sowie deren Konzentration zu.

SemiSol bietet Ihnen anwendungsbezogene Lösungen für Ihre Messungen und Analysen. Schnell, präzise und kosteneffizient. Seit über 30 Jahren führen wir fachkundig eine Vielzahl unterschiedlicher Oberflächen- und Festkörperanalysen durch. Gerne beraten wir Sie, welches Verfahren für Ihre Anforderungen am besten geeignet ist.

Komplementäre Analytik mittels REM-EDX-Analyse

 

Nahezu jedes Rasterelektronenmikroskop (REM) lässt sich mit einem EDX-Detektor und der notwendigen Software ausstatten. Dadurch kann im Rahmen einer REM-EDX Analyse bzw. EDX Spektroskopie zusätzlich die Topografie der Proben-Oberfläche sowie die Verteilung der chemischen Elemente abgebildet werden. Nach der REM-EDX-Analyse kann in der Auswertung also nicht nur die Zusammensetzung der Elemente ermittelt werden, sondern auch bestimmt werden, welches chemische Element sich wo auf der Probe befindet.

 

Vorteile der Energiedispersiven Röntgenanalyse

  • Zerstörungsfreies Verfahren mithilfe von Röntgenstrahlung
  • Quantitative und qualitative Analyse der Oberfläche einer Probe
  • Schnelles Verfahren dank simultaner Messung des gesamten Röntgen-Spektrums (gleichzeitige Analyse aller nachweisbaren chemischen Elemente)
  • Beantwortung weiterer Fragestellungen durch die Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • Element-Mapping der Proben-Oberfläche ist möglich, wenn der Elektronenstrahl über einer Probe gerastert wird

 

Vergleich zu anderen Analyse-Verfahren

 

Verglichen mit der EDX Analyse bietet die WDX-Methode (Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie) eine höhere spektrale Auflösung und somit geringere Nachweisgrenzen für das jeweilige zu untersuchende chemische Element. Da bei der EDX-Analyse das gesamte Energie-Spektrum der Röntgenstrahlung gemessen wird, können alle vorhandenen Elemente gleichzeitig analysiert werden, was gegenüber der WDX-Analyse einen entscheidenden Zeitvorteil bringt.

Neben der EDX-Analyse bietet SemiSol weitere Verfahren zur Oberflächenanalyse wie bspw. die TXRF- oder ICP-MS-Analyse. Je nach Fragestellung wählen wir mit Ihnen zusammen die geeignete Methode aus und liefern Ihnen innerhalb kürzester Zeit ausführliche Ergebnisse. Auch für schwierige und komplexe Probleme finden wir eine Lösung, die aussagekräftige Ergebnisse liefert und dabei im Zeit- und Kostenrahmen bleibt. Kontaktieren Sie uns für ein Beratungsgespräch – wir freuen uns darauf, Ihr Unternehmen mit unseren zielführenden Analytik-Lösungen voranzubringen.

Weitere Oberflächenanalysen

Schauen Sie sich weitere Analyseverfahren an. Gerne ermitteln wir, welche Methode für Ihre Fragestellung am besten geeignet ist.

ICP-MS Analyse

TXRF Analyse

WDX Analyse

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