REM-Analyse (Rasterelektronenmikroskopie)

Seit über 30 Jahren bietet Ihnen SemiSol anwendungsbezogene Lösungen für Ihre Messungen und Analysen. Wir arbeiten präzise, schnell und kosteneffizient. Für unsere nationalen und internationalen Kunden führen wir fachkundig eine Vielzahl unterschiedlicher Oberflächen- und Festkörperanalysen durch. In den Bereichen Forschung und Entwicklung unterstützen wir unsere Kunden zudem bei speziellen Analysefragen. Gerne beraten wir Sie zur Rasterelektronenmikroskopie und ermitteln bei weitergehenden Fragestellungen das Verfahren, das für Ihre Anforderungen am besten geeignet ist.

• Oberflächenanalyse fester Proben
• Untersuchung der Qualität von elektronischen Bauteilen und Kontakten
• Mikrostruktur-, Partikel-, Schadens-, Bruch- und Verschleißanalysen
• Überprüfung der Fertigungsqualität
• Mikroskopische Analyse und Dokumentation von Bauteil- bzw. Verarbeitungsfehlern
• Detektion von Fremdphasen (Verunreinigungen, Einschlüsse, intermetallische Phasen)
• Erkennung von Mikrorissen (und deren Fortschritt), Diffusionsprozessen und Whiskern
• Untersuchung des Schicht-Aufbaus bei elektronischen Bauteilen, Anschlüssen und Leiterplatten
• 2D- und 3D-Darstellung von Proben-Oberflächen
• Materialidentifikation und Konzentrationsbestimmung (i.V.m. EDX)

Mittels Rückstreuelektronen (Back-Scattered Electrons, BSE) können Materialkontraste erfasst werden. Die Materialzusammensetzung wird in verschiedenen Graustufen ausgegeben – je höher die Atommasse, desto heller wird der Bereich dargestellt. 

• Zerstörungsfreies Verfahren durch Abtastung der Probe mittels Elektronenstrahl
• Aufnahmen mit einem enormen Vergrößerungsfaktor (bis zu 100.000)
• Äußerst hohe Bildqualität und Schärfentiefe
• Analyse und Dokumentation von Strukturen und Verläufen im Nanometer-Bereich
• Aufdecken selbst geringster Schwachstellen und Verarbeitungsfehler und genaue Lokalisierung
• Genaue Abbildung der Topografie der Oberfläche der untersuchten Probe
• Als REM-EDX-Analyse: Analyse der vorhandenen chemischen Elemente (Zusammensetzung und Menge) und Bestimmung, wo genau sich welches chemische Element auf der Probenoberfläche befindet (Element-Mapping)
• REM EDX ist ein sehr schnelles Verfahren dank simultaner Messung des gesamten Röntgen-Spektrums (gleichzeitige Analyse aller nachweisbaren chemischen Elemente)
• In Kombination von REM Untersuchung und EDX: Bestimmung des Alters von Bauteilen, Aufdecken von Schäden durch Korrosion, Oxidation oder Schadstoffe, Untersuchung des Diffusionsfortschritts (z.B. zwischen Zinn- und Kupfer-Schichten an Pins)

SemiSol bietet für jede Fragestellung das richtige Verfahren

Neben der REM-Analyse bzw. REM-EDX-Analyse bietet SemiSol weitere Verfahren zur Oberflächenanalyse wie bspw. die TXRF- oder ICP-MS-Analyse. Je nach Fragestellung wählen wir mit Ihnen zusammen die geeignete Methode aus und liefern Ihnen innerhalb kürzester Zeit ausführliche Ergebnisse. Auch für schwierige und komplexe Probleme finden wir eine Lösung, die aussagekräftige Ergebnisse liefert und dabei im Zeit- und Kostenrahmen bleibt. Kontaktieren Sie uns für ein Beratungsgespräch – wir freuen uns darauf, Ihr Unternehmen mit unseren zielführenden Analytik-Lösungen voranzubringen.